單項(xiàng)選擇題AVG曲線中,以距離作為橫坐標(biāo);以()作為縱坐標(biāo)。

A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題在AVG曲線中,以聲波傳播的()作為橫坐標(biāo);以波幅高度作為縱坐標(biāo)。

A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)

2.單項(xiàng)選擇題使聲束指向性變差的原因是()。

A.缺陷的反射幅度低
B.被檢材料表面過分粗糙
C.回波的寬度大
D.以上都對(duì)

3.單項(xiàng)選擇題探頭中使用壓電陶瓷晶片的優(yōu)點(diǎn)是()。

A.激勵(lì)電脈沖的寬度
B.發(fā)射電路阻尼電阻的大小
C.晶片的材料和厚度
D.晶片的機(jī)電耦合系數(shù)

4.單項(xiàng)選擇題厚度相同,材料相同時(shí),()工件對(duì)超聲波的衰減大。

A.鋼鍛件
B.鑄鋼件
C.鋼板
D.上述工件的衰減相同

5.單項(xiàng)選擇題超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì),若介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)聲阻抗相等,則薄層厚度為()時(shí),將有最大的聲壓反射率。

A.1/2波長的整數(shù)倍
B.1/4波長的奇數(shù)倍
C.1/4波長的整數(shù)倍
D.以上都不對(duì)

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磁性成像可分為磁場成像和磁性成像,對(duì)其描述正確的有()。

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對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。

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