在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。