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A.磁頭在不工作時(shí)，是不會(huì)懸浮在盤片表面的
B.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤，工作時(shí)磁頭與盤片的距離為頭發(fā)直徑的千分之一
C.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤，工作時(shí)磁頭與盤片的距離為10~30微米
D.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤不工作時(shí)，磁頭與盤片的距離略高

A.相同型號(hào)的硬盤，缺陷表可以相互替換
B.P-List損壞和G-List損壞相比，前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問題往往更嚴(yán)重
C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List，相對連續(xù)讀寫而言，P-List缺陷對性能的影響更小
D.一塊經(jīng)過工廠嚴(yán)格測試的硬盤，也可能有缺陷扇區(qū)

A.BIOS無法識(shí)別硬盤
B.BIOS里可以識(shí)別硬盤型號(hào)，但無法識(shí)別容量
C.BIOS可以識(shí)別型號(hào)，但容量變小
D.操作系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)提示用戶密碼錯(cuò)誤

A.3.5
B.2.5
C.3.0
D.1.8

A.MSATA
B.PCI-E
C.NGFF
D.M.2

A.16
B.32
C.64
D.128

A.兼容SATA
B.多任務(wù)
C.帶寬大
D.價(jià)格較低
E.CPU占用率低

A.薄鐵片
B.鋁
C.陶瓷
D.特殊玻璃

A.$BOOT
B.$MFT
C.$LogFile
D.$MFTMirr
E.$ROOT