對于圓柱導體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。

缺陷分類應符合驗收標準的要求，標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。

在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應作出規(guī)定，檢驗監(jiān)控確認，檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點，否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

下面列出的確定透照布置應考慮的基本內(nèi)容中，錯誤的是（）。

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注，確保定位準確。

提出有效磁導率的是下列哪位科學家（）