A.界面聲阻抗
B.楊氏模具
C.泊松比
D.折射率
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A.入射角
B.折射角
C.擴(kuò)散角
D.反射角
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角相同
D.等于臨界角
A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
D.以上全部
A.散熱
B.繞射
C.折射
D.反射
E.衍射
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。