A.不合格標(biāo)識(shí)
B.合格標(biāo)識(shí)
C.待檢標(biāo)識(shí)
D.全部標(biāo)識(shí)
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A.風(fēng)險(xiǎn)源
B.風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)
C.風(fēng)險(xiǎn)源、風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)
D.知識(shí)
A.檢修
B.不合格
C.合格
D.合格和不合格
A.合格品、不合格品
B.合格品、不合格品、待檢品
C.不合格品、待檢品
D.合格品、待檢品
A.反射
B.折射
C.衍射
D.散射
A.降低
B.升高
C.不確定
D.先升高再降低
最新試題
探頭的分辨力（）
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。