A.分辨力和靈敏度
B.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.折射角和入射角
D.指示長(zhǎng)度
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A.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
B.用頻率較低的縱波進(jìn)行檢驗(yàn)
C.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
D.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
A.反射橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時(shí)的反射率最高
C.入射角為45°時(shí)的反射率最高
D.入射角為60°時(shí)的反射率最低
A.入射聲壓
B.反射聲強(qiáng)
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度
B.約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度的0.6倍
C.約為近場(chǎng)長(zhǎng)度的1.6倍
D.以上都可能
A.密度
B.彈性模量
C.泊松比
D.以上全部
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()