光電檢測電路的設(shè)計(jì)要求包括（）。

以下屬于光電檢測儀器的有（）。

幾何變換的光電檢測方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測和控制。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測器件。

對于相干檢測方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號檢測的對比度和增大交變分量的幅值。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號檢測電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

以下是CCD的發(fā)明者有（）。

成像測量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問題。

計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。