A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
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A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
A.散射和吸收
B.波束擴(kuò)散
C.介質(zhì)密度過(guò)大
D.缺陷類(lèi)別
最新試題
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
探頭的分辨力()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。