單項(xiàng)選擇題差動(dòng)式(兩管)放大電路的放大倍數(shù)和基本放大電路(單管)的放大倍數(shù)()??梢哉J(rèn)為,差動(dòng)式電路的特點(diǎn)是多用一個(gè)放大管來換取對(duì)零漂的抑制。
A.相同
B.差動(dòng)式放大電路是基本放大電路的二倍
C.差動(dòng)式放大電路是基本放大電路的1/2倍
D.差動(dòng)式放大電路是基本放大電路的4倍
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1.單項(xiàng)選擇題全波整流電路負(fù)載上的輸出電壓或電流的平均值是半波整流電路的()倍。
A.1
B.2
C.3
D.4
2.單項(xiàng)選擇題在電壓負(fù)反饋電路中,反饋采樣電壓與輸出電壓成()。
A.反比
B.正比
C.不成比例
D.任意
3.單項(xiàng)選擇題有一負(fù)反饋放大電路,A=1000,F(xiàn)=0.009,如果由于晶體管參數(shù)和環(huán)境溫度變化的影響,而使其放大倍數(shù)減小了20%,則變化后的AF值為()。
A.100
B.97.6
C.99.87
D.121.9
4.單項(xiàng)選擇題在晶體管放大電路中,常用的負(fù)反饋方式不包括()。
A.電壓并聯(lián)負(fù)反饋
B.電壓串聯(lián)負(fù)反饋
C.電流并聯(lián)負(fù)反饋
D.電流電壓混聯(lián)負(fù)反饋
5.單項(xiàng)選擇題數(shù)字電路中最基本的邏輯門不包括()。
A.與門
B.或門
C.非門
D.方門
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超聲探傷,能夠探測的缺陷尺寸,一般不小于一個(gè)波長。
題型:判斷題
超聲探傷,被檢工件厚度大,應(yīng)考慮靈敏度補(bǔ)償。
題型:判斷題
探頭芯片輻射的縱波,其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑,聲程成正比。
題型:判斷題
超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時(shí),聲束入射角等于反射角。
題型:判斷題
對(duì)順磁性,逆磁性的工件,通常采用磁粉探傷方法檢測。
題型:判斷題
材質(zhì)和超聲頻率給定時(shí),橫波對(duì)小缺陷的檢測靈敏度高于縱波。
題型:判斷題
曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好。
題型:判斷題
用AVG曲線評(píng)定缺陷時(shí),其準(zhǔn)確性很大程度上取決于超聲波探傷儀和探頭的性能。
題型:判斷題
滲透探傷的滲透性能主要是滲透能力和滲透速度。
題型:判斷題
確定探頭靈敏度的方法是用人工缺陷反射信號(hào)的輻值來確定。
題型:判斷題