二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

探頭的分辨力（）

對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）