A.試片厚度為15/100mm
B.試片上的槽深為15/100mm
C.試片厚度100μm,槽深15μm
D.槽深100μm,槽寬15μm
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A、實(shí)際應(yīng)用中對(duì)切斷磁化時(shí)間沒有多大關(guān)系
B、完成噴灑磁懸液的同時(shí)中止
C、噴灑磁懸液后1S內(nèi)中止
D、噴灑磁懸液前1S中止
A.掩蓋掉缺陷的磁痕
B.使襯度變好
C.檢測(cè)靈敏度更高,沒有什么壞處
D.不得不增加磁化電流
A.把磁粉很快地投入大量的水中,然后仔細(xì)地?cái)嚢?br />
B.先把磁粉和少量水?dāng)嚢瑁缓笤俾叵♂?br />
C.先把磁粉用表面活性劑仔細(xì)攪拌,然后再用水沖淡,分散于大量的水中
D.熒光磁粉中加入表面活性劑放入研缽,用研棒仔細(xì)研磨后,再把它分散于大量的水中
A.稱磁懸液的重量
B.將磁粉吸入苯中
C.使磁粉從磁懸液中沉淀出來
D.測(cè)量磁鐵上吸引的磁粉
A.磁粉應(yīng)具有高的磁導(dǎo)率
B.磁粉應(yīng)有大的矯頑力
C.磁粉粒度與缺陷大小無關(guān),越小越好
D.磁粉的沉降速度越快越好
最新試題
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
對(duì)滲透探傷無影響的是()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說法正確的有()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。