A.可使電子聚焦
B.可以減小二次X射線
C.提高X光管的真空度
D.A、B和C
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、可使電子聚焦
B、提高射線轉(zhuǎn)換效率
C、可不受氣體分子阻擋而消耗能量,并保持燈絲不氧化
D、可以減小X射線的生物效應(yīng)
A.來源方便
B.價(jià)格低廉
C.原子序數(shù)大
D.熔點(diǎn)高
A.拉伸強(qiáng)度和屈服強(qiáng)度
B.焦點(diǎn)和磁強(qiáng)度
C.電阻和抗氧化性能
D.原子序數(shù)和熔點(diǎn)
A.結(jié)構(gòu)
B.大小
C.穿透能力
D.冷卻方式
A.越小
B.越大
C.焦距等于工件直徑時(shí)有效長度最小
D.以上都不對(duì)
最新試題
冷裂紋常見的有()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說法正確的是()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
鑄件熒光滲透檢測時(shí),()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵睿谡麖埖灼秶霈F(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比,任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng),下面描述正確的是()。
潤濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤濕時(shí)()。
對(duì)滲透探傷無影響的是()。
用雙晶探頭檢測時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。