A.碳酸鈉
B.無(wú)水碳酸鈉
C.米吐?tīng)?br />
D.溴化鈉
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A.連續(xù)X射線譜形
B.特征X射線譜形
C.連續(xù)和特征X射線譜形
D.以上都不是
A.300kV峰值
B.300kV平均值
C.300kV有效值
D.300kV均方根值
A.Is/I
B.Is/Ip
C.I/Is
D.Ip/Is
A.單色窄線束
B.連續(xù)標(biāo)識(shí)X線束
C.寬束連續(xù)X線束
D.A、B和C
A.1.0%
B.1.4%
C.2.0%
D.0.7%
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。
與一次射線相比,散射線的()。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比,任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng),下面描述正確的是()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。