A.1λ
B.(1/2)λ
C.(1/10)λ
D.(1/100)λ
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A.脈沖波
B.電磁波
C.方波
D.爬波
A.連續(xù)波與電磁波
B.脈沖波與電磁波
C.連續(xù)波與脈沖波
D.A和B
A.無(wú)關(guān)
B.有限
C.無(wú)窮
D.任意
A.X≤Acos(ωt-φ)
B.X=Acos(ωt+φ)
C.X≤Asin(ωt+φ)
D.X≥Asin(ωt-φ)
A.熱影響區(qū)的過(guò)熱粗晶
B.焊縫中部
C.母材
D.焊縫上部
最新試題
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng),聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。