A.窄束透照工件時(shí),未散射的透過(guò)射線I和工件的散射線IS均到達(dá)檢測(cè)器
B.寬束透照工件時(shí),未散射的透過(guò)射線I和工件的散射線IS均到達(dá)檢測(cè)器
C.窄束透照工件時(shí),只有未散射的透過(guò)射線I到達(dá)檢測(cè)器
D.以上B和C均正確
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.穿透能力不同
B.強(qiáng)度不同
C.產(chǎn)生機(jī)理不同
D.以上都是
A.都是電磁波的一種
B.都是由同一種方法產(chǎn)生的
C.速度不同的輻射
D.以上都不對(duì)
A.同類(lèi)型的輻射
B.聲發(fā)射
C.速度不同的輻射
D.以上都不對(duì)
A.光子流
B.能量高、波長(zhǎng)短
C.因而不可見(jiàn)
D.以上都對(duì)
A.增大
B.減小
C.不變
D.不一定
最新試題
下述有關(guān)咬邊缺陷產(chǎn)生原因的敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
X射線管的焦點(diǎn)形狀和大小主要取決于()。
下述無(wú)損檢測(cè)方法中,能夠檢測(cè)鍛件白點(diǎn)缺陷的方法是()
下列關(guān)于連續(xù)法和剩磁法的敘述中,正確的是()。
下述無(wú)損檢測(cè)方法中,最適用檢測(cè)焊接接頭V坡口未熔合缺陷的方法是()
平板焊縫磁粉探傷最理想的探傷儀是()。
X射線管的發(fā)射效率主要取決于()。
連續(xù)譜射線穿透一定厚度的物體后,其發(fā)生的變化之一是()。
高速電子與陽(yáng)極靶的()作用,產(chǎn)生靶材的標(biāo)識(shí)X射線。
以下防止結(jié)晶裂紋的措施的敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()