A.考試方式包括筆試、操作考試以及必要的口試;考試內(nèi)容包括基礎(chǔ)技術(shù)和專業(yè)技術(shù)兩個(gè)部分
B.只要筆試和操作考試在80分以上,就免予口試
C.共培訓(xùn)練習(xí)用的試塊也可作為考試試樣
D.技術(shù)資格合格,筆試和操作考試平均在80分以上,報(bào)考人員就可以取得II級(jí)資格證書(shū)
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A.試片厚度為15/100mm
B.槽深為15/100mm
C.試片厚度100微米,槽深15微米
D.槽寬15微米,槽深100微米
A.10N
B.45N
C.87N
D.177N
A.VA-D
B.FB-W
C.FC-S
D.以上都不合適
A.在任何情況下,只要根據(jù)一種無(wú)損檢測(cè)方法的檢測(cè)結(jié)果,就能斷定被檢對(duì)象的內(nèi)部質(zhì)量情況
B.為了提高無(wú)損檢測(cè)的可靠性,無(wú)論用什么檢測(cè)方法都應(yīng)力求采用最高的檢測(cè)靈敏度
C.無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果可以作為評(píng)定工件或材料質(zhì)量的重要依據(jù),但有時(shí)也需要根據(jù)其他檢驗(yàn)方法所得到的檢測(cè)參數(shù)作綜合評(píng)定
D.由于無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果往往來(lái)自間接獲得的物理參數(shù),因此這種結(jié)果僅僅提供了對(duì)工件或材料評(píng)價(jià)的、不重要的參考數(shù)據(jù)
A.TC135
B.TC17
C.TC44
D.以上都是
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是影響缺陷定量的因素。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。