直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹枝狀花紋的原因是（）

在近場(chǎng)以外的部分，即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為（）

下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法，正確的是（）

在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）

關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說(shuō)法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長(zhǎng)度）。

在探傷靈敏度確定后，缺陷的當(dāng)量大小（）

焊縫超聲波探傷時(shí)，當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了（）

檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用（）

射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。