A.相鄰線電流繼電器的常閉觸點(diǎn)；
B.相鄰線電流繼電器的常開觸點(diǎn)；
C.本線電流繼電器的常開觸點(diǎn)；
D.本線電流繼電器的常閉觸點(diǎn)。
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A.單回線運(yùn)行時(shí)；
B.雙回線運(yùn)行時(shí)；
C.主保護(hù)退出時(shí)；
D.以上任一答案均可的運(yùn)行方式
A.為了提高差動(dòng)保護(hù)的動(dòng)作速度；
B.為了防止在區(qū)內(nèi)故障較高的短路水平時(shí)，由于電流互感器的飽和產(chǎn)生高次諧波量增加，導(dǎo)致差動(dòng)元件拒動(dòng)；
C.保護(hù)設(shè)置的雙重化，互為備用；
D.為了提高差動(dòng)保護(hù)的可靠性。
A.變壓器零點(diǎn)未接地，C相接地；
B.變壓器零點(diǎn)接地；
C.變壓器零點(diǎn)未接地，B相接地；
D.變壓器零點(diǎn)未接地，A相接地。
A.距故障點(diǎn)越遠(yuǎn)負(fù)序電壓越高；
B.距故障點(diǎn)越近負(fù)序電壓越高；
C.與故障點(diǎn)位置無關(guān)；
D.距故障點(diǎn)越近負(fù)序電壓越低。
A.與A相電壓同相位；
B.與A相電壓相位相差180º；
C.超前于A相電壓90º；
D.滯后于A相電壓90º。
最新試題
導(dǎo)致繼電保護(hù)事故的原因主要有（）等方面的問題。
線路微機(jī)保護(hù)裝置調(diào)試主要的技術(shù)資料包括（）
校驗(yàn)微機(jī)保護(hù)時(shí)對(duì)校驗(yàn)裝置（）做得不到位，容易損壞保護(hù)中的芯片。
利用脈沖信號(hào)模擬器可以對(duì)測(cè)控裝置的遙信輸入功能進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)每個(gè)輸入點(diǎn)應(yīng)檢測(cè)不少于（）次。
在外部電源正常供電的情況下，如果路由器的各個(gè)內(nèi)部模塊都不能正常工作，那就可能是（）
充電裝置綜合測(cè)試儀通過對(duì)待測(cè)充電裝置（）的采樣和分析，判斷該裝置的性能優(yōu)劣。
備自投裝置的交流量調(diào)試包括（）
實(shí)負(fù)荷法遙測(cè)現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)內(nèi)容不包含的是（）
暫態(tài)穩(wěn)定計(jì)算中求解微分方程組的方法有（）
蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀原理通過對(duì)比整組蓄電池的（）或跟蹤單體電池的內(nèi)阻變化程度，可以找出整組中落后的電池。