A.拉伸試驗(yàn)
B.壓扁試驗(yàn)
C.沖擊試驗(yàn)
D.扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)
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A.可變孔徑法
B.近場(chǎng)掃描法
C.刀口掃描法
D.遠(yuǎn)場(chǎng)掃描法
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A.幾何參數(shù)
B.折射率分布
C.損耗
D.截止波長(zhǎng)
A.<2%
B.<3%
C.<4%
D.<6%
A.外部化學(xué)氣相沉積法
B.軸向化學(xué)氣相沉積法
C.改進(jìn)的化學(xué)氣相沉積法
D.等離子化學(xué)氣相沉積法
最新試題
光纖內(nèi)部衰減隨距離的增加而減少。
鬼點(diǎn)(影)又稱幻峰,出現(xiàn)鬼點(diǎn)(影)的主要原因是由于儀表的量程放的太小或者儀器與光纖、光纖與光纖間的接頭反射太大造成的。
緊套光纖是在一次涂覆與二次涂覆之間有一緩沖層,其目的是為了減小外界應(yīng)力對(duì)光纖的作用。
在OTDR使用中,掩模的概念是指在反射峰期間,屏蔽接收器的光信號(hào)。
光纖的制造過(guò)程可主要分為提純,熔煉,拉絲等。
在環(huán)境變化較大或較長(zhǎng)時(shí)間為校準(zhǔn)或換電極的情況下,需要做放電檢查。
光纜布放時(shí),速度要均勻,避免出現(xiàn)浪涌、打小圈現(xiàn)象。
熔接機(jī)在機(jī)器內(nèi)部積有灰塵的情況下使用,會(huì)引發(fā)電器部件的短路或者阻礙散熱,從而造成機(jī)器故障或老化,導(dǎo)致火災(zāi)、觸電事故的發(fā)生。
以下哪些屬于3M路由探測(cè)儀的工作方式()
光纖熔接后變細(xì),可能是因?yàn)椋ǎ?/p>