化學(xué)分析用鐵合金樣品的最大篩分粒度不應(yīng)大于（）。

X射線熒光光譜分析中，充氣正比探測(cè)器所用P10氣體中氬氣的比例為90%，（）的比例為10%。

螢石的制樣粒度是全部過(guò)（）目篩。

在水分測(cè)定過(guò)程中，干燥盤中的試樣厚度應(yīng)小于（）mm。

保留的分析試樣，是化學(xué)分析試樣出現(xiàn)丟失或污染后的（）。