光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。

光纜接頭盒的種類較多，從接續(xù)方式上分為直通接續(xù)接頭盒和（）兩種。

局內(nèi)光纜有兩種程式，一種是（）；另一種是（）。

光纜的中繼段測(cè)試又稱為（）測(cè)試。

常規(guī)單模光纖在（）波長(zhǎng)下的色散為0，在（）波長(zhǎng)下的損耗最小。

光纜線路測(cè)試包括光纜線路的工程測(cè)試和（）。

光在光纖中傳輸時(shí)的衰減可用光纖的損耗系數(shù)來(lái)表示，其單位為（）。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

路由復(fù)測(cè)是以（）為依據(jù)，復(fù)核光纜路由的（）、敷設(shè)條件、預(yù)留位置、敷設(shè)環(huán)境以及（）的具體位置，復(fù)測(cè)路由的地面長(zhǎng)度等，為光纜的配盤(pán)、分屯以及敷設(shè)提供必要的條件。