光纜的中繼段測(cè)試又稱為（）測(cè)試。

終端盒成端是將光纜固定在終端盒上，把外線光纜中的光纖與（）沒(méi)有連接器的一端相熔接，把余纖收容在終端盒的收容盤內(nèi)。

光在光纖中傳輸時(shí)的衰減可用光纖的損耗系數(shù)來(lái)表示，其單位為（）。

光纜線路測(cè)試包括光纜線路的工程測(cè)試和（）。

OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

介質(zhì)的折射率n與光在該介質(zhì)中的傳播速度v之間的關(guān)系是（）。

單盤測(cè)試中，光特性參數(shù)包括（）、（）和（）。

光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。

面對(duì)光纜截面，由領(lǐng)示光纖松套管（或填充線），以紅頭綠尾（或藍(lán)頭黃尾）的順序，順時(shí)針為（），逆時(shí)針為（）。