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A．顯極；
B．飽和點(diǎn)；
C．剩磁點(diǎn)；
D．殘留點(diǎn)
A．絕對(duì)靈敏度；
B．相對(duì)靈敏度；
C．對(duì)比靈敏度；
D．以上都是
A.縱向磁化；
B.周向磁化；
C.高充填因數(shù)線圈磁化；
D.以上都不是
A．縱向磁化；
B．軸向磁化；
C．向量磁化；
D．平行磁化
最新試題
采用濕法時(shí)，應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中，逐漸減小電流至零。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：剩磁應(yīng)不大于0.3mT（240A/m）。
剩磁法不能用于干法檢測。
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
采用剩磁法時(shí)，磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加，一般通電時(shí)間為2～3s。