A.熒光;
B.自然光;
C.黑光;
D.氖光
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A、需要的設(shè)備少
B、檢驗速度快
C、成本低
D、容易被吸附
A.受磁鐵強烈吸引;
B.能被磁化;
C.以上都是;
D.以上都不是
A.磁化電壓波動時;
B.磁化電流存在時;
C.材料呈現(xiàn)出高矯頑力;
D.磁化電流變小時
A.能檢出表面夾有外來材料的表面不連續(xù)性;
B.對單個零件檢驗快;
C.可檢出近表面不連續(xù)性;
D.以上都是。
A.高磁導(dǎo)率;
B.低磁導(dǎo)率;
C.高磁阻;
D.低頑磁性
最新試題
熒光磁粉檢測時,磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進行,暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
采用剩磁法時,磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時間為2~3s。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認細小缺陷磁痕時應(yīng)用2~10倍放大鏡進行觀察。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中,逐漸減小電流至零。
相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。