A.鎢夾渣
B.焊瘤
C.焊接飛濺
D.以上都是
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A.裂紋
B.未焊透
C.咬邊
D.焊瘤
A.未焊透
B.未溶合
C.凹陷
D.咬邊
A.越暗越好
B.控制在70流明左右
B.與透過底片的亮度大致相同
D.以上都不對(duì)
A.停顯液為酸性溶液
B.使用停顯液可防止兩色性霧翳產(chǎn)生
C.使用停顯影可防止定影液被污染
D.為防止藥膜損傷,可在停顯液中加入堅(jiān)膜劑無水亞硫酸鈉
A.氧化
B.還原
C.抑制
D.水解
最新試題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。