A、連續(xù)電磁波
B、感應(yīng)電場(chǎng)
C、靜電原理
D、康普頓效應(yīng)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、貝他加速器(Betatron)
B、線(xiàn)性加速器(Linear accelerator)
C、范得格夫X光機(jī)(Van de Gaff X ray equipment)
D、傳統(tǒng)的X光機(jī)
A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、電子對(duì)生成效應(yīng)
D、光電效應(yīng)與康普頓效應(yīng)
A、可發(fā)生游離輻射的設(shè)備
B、非密封放射性物質(zhì)
C、密封放射性物質(zhì)
D、以上都對(duì)
A、增加兩極間的電壓差
B、增高電子速度
C、增加電子量
D、以上都是
A、射頻能量
B、磁感應(yīng)
C、不導(dǎo)電的電荷傳送帶
D、高壓與交流電源頻率共振
最新試題
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
在射線(xiàn)照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
與直探頭相比,雙晶探頭()
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法,正確的是()
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率,以下敘述正確的是()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大小()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()