A、射源至試件距離越遠(yuǎn)，影像放大得越大
B、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越大，影像放大得越大
C、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越小，影像放大得越大
D、射源至試件的距離與影像放大無關(guān)
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A、射源至底片的距離
B、曝光時(shí)間
C、KV
D、mA
A、第一次較易檢出缺陷
B、第二次較易檢出缺陷
C、對(duì)于缺陷檢出力無法比較
D、以上都對(duì)
A、8.5英寸底片三張，雙壁照相單壁看片
B、8.5英寸底片兩張，雙壁照相雙壁看片
C、8.5英寸底片四張，雙壁照相單壁看片
D、12英寸底片三張，雙壁照相單壁看片
A、橢圓投影，至少相隔90°兩次照像，雙壁看片
B、橢圓投影，至少相隔180°兩次照像，雙壁看片
C、一次橢圓投影，雙壁看片
D、以上都可以
A、將會(huì)產(chǎn)生相同強(qiáng)度與品質(zhì)的輻射線
B、將會(huì)產(chǎn)生相同強(qiáng)度、品質(zhì)不同的輻射線
C、將會(huì)產(chǎn)生不同強(qiáng)度、相同品質(zhì)的輻射線
D、輻射強(qiáng)度與品質(zhì)均不同
最新試題
在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1：1調(diào)整后，其始波前沿（）
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用（）
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長(zhǎng)度）。
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用（）方法透照。
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹枝狀花紋的原因是（）
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說法，正確的是（）
與直探頭相比，雙晶探頭（）
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是（）