A、射線照片上影像的對(duì)比度決定了在垂直于射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
B、射線照片上影像的不清晰度決定了沿射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
C、射線照片上影像的顆粒度決定了影像可記錄的細(xì)節(jié)最小尺寸
D、以上都對(duì)
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A、射線照片上影像的對(duì)比度決定了沿射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
B、射線照片上影像的不清晰度決定了在垂直于射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
C、射線照片上影像的顆粒度決定了影像可記錄的細(xì)節(jié)最小尺寸
D、以上都對(duì)
A、選用可能的較低能量的射線透照
B、采取各種措施減少到達(dá)膠片的散射線強(qiáng)度
C、選用質(zhì)量?jī)?yōu)良的膠片和采用良好的暗室處理技術(shù)
D、以上都是
A、采用的射線照相技術(shù)
B、缺陷性質(zhì)
C、缺陷尺寸與取向
D、以上都是
A、管電壓
B、管電流
C、曝光時(shí)間
D、焦距
A、增加管電壓
B、在X射線管處用一塊濾光板并增加曝光時(shí)間
C、減少曝光時(shí)間
D、降低管電流
E、a和b都可以
最新試題
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
與直探頭相比,雙晶探頭()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
底片干燥時(shí),一般不得超過(guò)60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>