單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的Φ50孔改為Φ40、Φ44、Φ50臺(tái)階孔,其目的是()
A、測(cè)定斜探頭K值
B、測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C、測(cè)定斜探頭分辨力
D、以上全是
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1.單項(xiàng)選擇題CSK-IIIA試塊上的Φ1x6mm橫孔,在超聲遠(yuǎn)場(chǎng),其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與()相同
A、長(zhǎng)橫孔
B、平底孔
C、球孔
D、b和c
最新試題
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
題型:判斷題
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
題型:判斷題
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
題型:判斷題
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
題型:判斷題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
題型:判斷題