單項選擇題當探頭橫向移動時,比探頭尺寸小的缺陷所產生的信號幅度會發(fā)生起伏變化,這個區(qū)域稱為()
A、遠場區(qū)
B、近場區(qū)
C、過渡區(qū)
D、陰影區(qū)
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1.單項選擇題當用雙晶直探頭在平面上掃查時,應盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向()
A、平行
B、成45°角
C、垂直
D、成60°角
2.單項選擇題在利用實心軸上圓柱面底波按AVG方法校正探傷靈敏度時,為了保證軸的直徑不小于3.7N,通??赏ㄟ^()使之實現
A、減小探頭尺寸
B、加大探頭尺寸
C、降低檢測頻率
D、以上都不對
3.單項選擇題斜探頭測焊縫時,正確地調整儀器的水平或深度比例主要是為了()。
A、識別焊道回波和缺陷波
B、判定缺陷的大小
C、判定缺陷的長度
D、判斷缺陷的位置
E、達到a和d的目的
4.單項選擇題鍛件探傷中,若缺陷垂直于探測面,且缺陷稍有曲折或較粗糙時,若采用高靈敏度探傷,其反射波特征是()
A、反射波峰尖銳
B、反射波穩(wěn)定但較波幅低
C、反射波幅低,回波包絡寬度較大
5.單項選擇題已選定某一聚焦探頭對管材作水浸聚焦探傷,如果聚焦點不能調整到被檢管件的中心軸線上,而偏離中心軸線一定距離,在管壁內將出現()
A、盲區(qū)增大
B、無底波反射
C、多種波型傳播
最新試題
對于圓柱導體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
題型:單項選擇題
增加工藝性透視有利于保證焊接質量,因此盡可能增加工藝性透視次數。
題型:判斷題
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。
題型:判斷題
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。
題型:判斷題
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質量應符合工序質量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
題型:判斷題
廢舊藥液應采用專用容器收集,定期送指定的機構處理。
題型:判斷題
像質計放置次數一般應與透照次數相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數.但不少于透照次數的三分之一。
題型:判斷題
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
題型:判斷題
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據。
題型:判斷題
提出有效磁導率的是下列哪位科學家()
題型:單項選擇題