單項(xiàng)選擇題方形鍛件垂直法探傷時(shí),熒光屏上出現(xiàn)一隨探頭移動(dòng)而游動(dòng)的缺陷回波,其波幅較低但底波降低很大,該缺陷的取向可能是()

A、平行且靠近探測(cè)面
B、與聲束方向平行
C、與探測(cè)面成較大角度
D、平行且靠近底面


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1.單項(xiàng)選擇題鍛件探傷時(shí),如果用試塊比較法對(duì)缺陷定量,對(duì)于表面粗糙的缺陷,缺陷實(shí)際尺寸會(huì)()

A、大于當(dāng)量尺寸
B、等于當(dāng)量尺寸
C、小于當(dāng)量尺寸
D、以上都可能

2.單項(xiàng)選擇題厚度相同,材料相同,下列那種工件對(duì)超聲波的衰減大?()

A、鋼鍛件
B、鑄鋼件
C、鋼板
D、上述工件的衰減相同

3.單項(xiàng)選擇題下面有關(guān)鑄鋼件探測(cè)條件選擇的敘述中哪點(diǎn)是正確的?()

A、探測(cè)頻率應(yīng)等于大于5MHz
B、透聲性好粘度大的耦合劑
C、晶片尺寸小的探頭
D、以上全部

4.單項(xiàng)選擇題下列哪種頻率的超聲波對(duì)鑄鋼件的穿透力較大?()

A、5MHz
B、10MHz
C、2.5MHz
D、1MHz

5.單項(xiàng)選擇題欲使用5MHz14mm直探頭縱波檢測(cè)厚度40mm的鋼鍛件,其靈敏度調(diào)試和定量評(píng)定的方法最好采用()。

A、底波方式法
B、AVG曲線圖法
C、對(duì)比試塊法
D、以上都不對(duì)

最新試題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。

題型:判斷題