單項(xiàng)選擇題一般情況下,對(duì)于薄層反射體,若其厚度為()可得到最大反射信號(hào)。

A、一個(gè)波長(zhǎng)的奇數(shù)倍
B、λ/4的奇數(shù)倍
C、λ/4的偶數(shù)倍
D、λ/2的整數(shù)倍


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2.單項(xiàng)選擇題表征材料聲學(xué)特性的材質(zhì)衰減,主要是由()所引起的

A、散射和吸收 
B、波束擴(kuò)散 
C、介質(zhì)密度過大

3.單項(xiàng)選擇題超聲波通過兩種材料的界面時(shí),如果第一介質(zhì)的聲阻抗比較大,但聲速與第二介質(zhì)相同,則折射角()

A、大于入射角
B、小于入射角
C、與入射角相同
D、在臨界角之外

4.單項(xiàng)選擇題超聲波縱波從水中傾斜入射到金屬材料中時(shí),折射角主要取決于()

A、水與金屬的阻抗比
B、水與金屬的相對(duì)聲速及聲波入射角
C、超聲波的頻率
D、水與金屬的密度比

5.單項(xiàng)選擇題超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時(shí),若介質(zhì)兩側(cè)面的物質(zhì)聲阻抗相等,則薄層厚度為()時(shí),將有最大的聲壓透過率

A、1/2波長(zhǎng)的整倍數(shù) 
B、1/4波長(zhǎng)的整倍數(shù) 
C、1/4波長(zhǎng)的奇倍數(shù)

最新試題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

航天無損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題