單項(xiàng)選擇題在A型掃描顯示中,電子束在陰極射線管的熒光屏上均勻重復(fù)移動(dòng),所形成的水平線叫做()

A、方波圖形
B、掃描線
C、標(biāo)志圖形
D、上述三種都不對(duì)


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)儀中,產(chǎn)生高壓電脈沖以激發(fā)探頭工作的電路單元稱為()

A、放大器
B、接收器
C、脈沖發(fā)生器
D、同步器

2.單項(xiàng)選擇題被放大的信號(hào)幅度與缺陷的反射面積成正比關(guān)系,放大器這一非飽合的放大區(qū)域稱為()

A、靈敏度范圍
B、線性范圍
C、選擇性范圍
D、分辨范圍

3.單項(xiàng)選擇題能將兩個(gè)相鄰缺陷在示波屏上區(qū)分開的能力叫()

A、分辨力
B、重復(fù)頻率
C、水平線性

4.單項(xiàng)選擇題探傷儀發(fā)射電路部分的功用是()

A、發(fā)射超聲脈沖
B、把發(fā)射脈沖放大
C、發(fā)射電脈沖
D、產(chǎn)生方形波

最新試題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題