單項(xiàng)選擇題超聲波由A介質(zhì)透入B介質(zhì)時(shí),如果面對(duì)入射方向的界面為一個(gè)凹面,并且聲速CA>CB,則該曲面將對(duì)透過波()

A、起聚焦作用
B、起發(fā)散作用
C、不起作用
D、有時(shí)聚焦,有時(shí)發(fā)散


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1.單項(xiàng)選擇題超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時(shí),若介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)聲阻抗相等,則薄層厚度為()時(shí),將有最大的聲壓反射率

A、1/2波長的整數(shù)倍
B、1/4波長的奇數(shù)倍
C、1/4波長的整數(shù)倍
D、1/8波長的整數(shù)倍

2.單項(xiàng)選擇題超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時(shí),若介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)聲阻抗相等,則薄層厚度為()時(shí),將有最大的聲壓透過率

A、1/2波長的整數(shù)倍
B、1/4波長的奇數(shù)倍
C、1/4波長的整數(shù)倍
D、1/8波長的整數(shù)倍

3.單項(xiàng)選擇題探傷面上涂敷耦合劑的主要目的是()

A、防止探頭磨損
B、消除探頭與探測面之間的空氣
C、有利于探頭滑動(dòng)
D、防止工件生銹

4.單項(xiàng)選擇題超聲波在介質(zhì)中的傳播速度主要取決于()

A、脈沖寬度
B、頻率
C、探頭直徑
D、超聲波通過的材質(zhì)和波型

5.單項(xiàng)選擇題按照斯涅爾(Snell)折射定律規(guī)定,入射角和折射角的正弦之比等于兩種介質(zhì)的()

A、密度之比
B、彈性模量之比
C、聲阻抗之比
D、聲速之比

最新試題

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型:判斷題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:單項(xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:單項(xiàng)選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題