填空題導(dǎo)致臭氧層耗損的典型物質(zhì)有()
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最新試題
電子云密度、氫鍵、官能團(tuán)及其他量子化學(xué)參數(shù)屬于分子幾何結(jié)構(gòu)方面的特征描述符。
題型:判斷題
lgKow小,表明該物質(zhì)脂溶性比較大,而水溶解性比較小,物質(zhì)容易進(jìn)入生物膜但可能不容易出來。
題型:判斷題
電子云密度越大的位置與親電化合物發(fā)生反應(yīng)的可能性越高。
題型:判斷題
下列哪個(gè)參數(shù)屬于間接結(jié)構(gòu)描述符?()
題型:單項(xiàng)選擇題
一般隨著Kow數(shù)值的增大,物質(zhì)毒性增強(qiáng),但當(dāng)Kow數(shù)值增大到一定值時(shí),低水溶性的化合物隨著Kow值增大,毒性減弱。
題型:判斷題