在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷中對工件材料的（）有一定的要求。

通用儀器對焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

探頭移動過程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測面。