超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。

通用儀器對焊補層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導致（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應的（）對探傷有利。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。

耦合劑應選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

探傷中遇鋼軌焊補時，執(zhí)機人員必須“站?？床ā痹诒３炙砍渥愕那闆r下，探傷靈敏度應提高（）。

探傷掃查過程中，探頭的方向應根據(jù)（）進行布局和掃查。