多項(xiàng)選擇題時(shí)基器產(chǎn)生的時(shí)基線是用來測定（）的.

A.缺陷位置
B.回波時(shí)間
C.回波高度


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1.多項(xiàng)選擇題直探頭輻射透入試件的波（）

A.只能是縱波
B.也可以是橫波
C.也可以是表面波或板波

2.多項(xiàng)選擇題儀器的測量范圍可通過（）開關(guān)來調(diào)節(jié).

A.水平
B.延遲
C.掃描粗調(diào)
D.掃描細(xì)調(diào)

3.多項(xiàng)選擇題儀器放大器的增益愈大，表示（）

A.靈敏度愈高
B.靈敏度愈低
C.愈能檢出小缺陷

4.多項(xiàng)選擇題除缺陷的大小和聲程外，影響缺陷波高的缺陷自身因素有（）

A.缺陷取向
B.缺陷形狀
C.缺陷類型
D.缺陷的表面粗糙度

5.多項(xiàng)選擇題探傷和探傷靈敏度調(diào)節(jié)應(yīng)使用（）的耦合劑.

A.同種
B.聲阻抗相同
C.聲速相同