透射電子顯微的基本結(jié)構(gòu)不包括（）。

電子與物質(zhì)相互作用時(shí)，殘存在樣品中的入射電子被稱為（）。

根據(jù)所測(cè)定的（）的不同，可以對(duì)晶體物質(zhì)加以定性鑒別。

一般情況下，樣品熔點(diǎn)（或沸點(diǎn)）范圍越窄，試樣的（）越高。

DTA曲線以溫差為縱坐標(biāo)，時(shí)間或溫度為橫坐標(biāo)，（）的峰組成的。