單項(xiàng)選擇題使用儀器一斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定（）
A.前沿距離
B.Ｋ值
C.主聲束偏離、靈敏度余量和分辨率等
D.以上都是
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1.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：每隔（）至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定。
A.每周
B.每個(gè)月
C.三個(gè)月
D.半年
2.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：探頭的掃查速度不應(yīng)超過（）,當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置時(shí)，不受此限。
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
3.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：探頭每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的（）
A.5％
B.10%
C.15%
D.20%
4.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于（）
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
5.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：晶片面積一般不大于（），且任一邊長原則上不大于25mm。
A.250mm2
B.400mm2
C.500mm2
D.625mm2
最新試題
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題