A.1.5mm
B.0.05mm
C.0.8mm
D.隨晶片直徑變化
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A.小于縱波折射角
B.等于縱波折射表
C.大于縱波折射表
D.為零
A.空氣
B.水
C.鋁
D.不銹鋼
A.減小
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
A.誰(shuí)與金屬的抗阻比
B.誰(shuí)與金屬的相對(duì)聲速
C.超聲波的頻率
D.水與金屬的密度比
A.平行于波的傳波方向
B.垂直于超聲波的傳播方向
C.限于材料表面并做橢圓運(yùn)動(dòng)
D.在平面中與波的傳播方向成45º偏振
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是影響缺陷定量的因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。