判斷題磁粉探傷方法只能探測(cè)開口于試件表面的缺陷,而不能探測(cè)近表面缺陷
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一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
通常所謂20KV的X射線是指()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
題型:判斷題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
影響較大的散射線通常來自()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題