判斷題

f(t)=1-e-2t的Z變換為 。()


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1.單項(xiàng)選擇題2型系統(tǒng)對(duì)數(shù)幅頻特性的低頻段漸近線斜率為()

A.-60dB/dec
B.-40dB/dec
C.-20dB/dec
D.0dB/dec

3.單項(xiàng)選擇題比例微分控制器中,微分時(shí)間常數(shù)越大,則系統(tǒng)的()

A.動(dòng)態(tài)偏差越小
B.動(dòng)態(tài)偏差越大
C.振蕩越小
D.過渡過程縮短

4.單項(xiàng)選擇題超前校正裝置的最大超前相角可趨近()

A.-90°
B.-45°
C.45°
D.90°

最新試題

系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后,系統(tǒng)的()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超前校正適用于改善系統(tǒng)的(),而滯后校正常用于改善系統(tǒng)的()。如果系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性均較差時(shí),通常需采用()。

題型:填空題

首一多項(xiàng)式形式的傳遞函數(shù)對(duì)應(yīng)的增益稱為:()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開環(huán)極點(diǎn)的積。()

題型:判斷題

采用串聯(lián)滯后校正時(shí),通??墒剐U笙到y(tǒng)的增益剪切頻率ωc()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用根軌跡法設(shè)計(jì)系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導(dǎo)極點(diǎn)的位置:然后通過設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過主導(dǎo)極點(diǎn)的預(yù)期位置;最后,計(jì)算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。

題型:填空題

在原點(diǎn)附近增加一對(duì)開環(huán)偶極子,根軌跡的走向和特征根的位置(),所以基本上不改變系統(tǒng)的()特性,其作用主要是改變系統(tǒng)的(),提高系統(tǒng)的靜態(tài)精度。

題型:填空題

已知某單位負(fù)反饋系統(tǒng)在單位階躍輸入信號(hào)作用下的穩(wěn)態(tài)誤差為零,且系統(tǒng)的閉環(huán)特征方程為s3+2s2+3s+2=0,則系統(tǒng)的開環(huán)傳遞函數(shù)不可能為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

關(guān)于動(dòng)態(tài)系統(tǒng),下列說法錯(cuò)誤的是:()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

關(guān)于結(jié)構(gòu)圖的化簡(jiǎn),說法錯(cuò)誤的是()

題型:多項(xiàng)選擇題