下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）

（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。

H模型沒能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。

下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）

敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。

敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）

測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問題。說的是以下哪一種評(píng)審方法？（）

下面對(duì)于開發(fā)過程描述正確的是（）