A.σ的大小表征了測量值的離散程度
B.σ越大,隨機誤差分布越集中
C.σ越小,測量精度越高
D.一定條件下,某臺儀器的σ值通常為常數(shù)
E.多次等精度測量后,其平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏σx=σ/n
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A.量塊即為長度基準(zhǔn)
B.可以用量塊作為長度尺寸傳遞的載體
C.用1級量塊可以3等量塊使用
D.測量精度主要決定于測量器具的精確度,因此測量器具的精度越高越好
E.測量器具的不確定度為示值誤差和示值穩(wěn)定性的綜合
A.該量規(guī)稱通規(guī)
B.該量規(guī)稱卡規(guī)
C.該量規(guī)屬校對量規(guī)
D.該量規(guī)屬工作量規(guī)
E.該量規(guī)包括通端和止端
A.表面粗糙度屬于表面微觀性質(zhì)的形狀誤差
B.表面粗糙度屬于表面宏觀性質(zhì)的形狀誤差
C.表面粗糙度屬于表面波紋度誤差
D.經(jīng)過磨削加工所得表面比車削加工所得表面的表面粗糙度值大
E.介于表面宏觀形狀誤差與微觀形狀誤差之間的是波紋度誤差
A.游標(biāo)卡尺測軸徑時所產(chǎn)生的阿貝誤差
B.光學(xué)比較儀的示值誤差
C.測量過程中環(huán)境溫度的隨時波動
D.千分尺測微螺桿的螺距誤差
A.量規(guī)通規(guī)的長度應(yīng)等于配合長度
B.量規(guī)止規(guī)的長度應(yīng)比通規(guī)要短
C.量規(guī)的結(jié)構(gòu)必須完全符合泰勒原則
D.軸用量規(guī)做成環(huán)規(guī)或卡規(guī)都屬于全形量規(guī)
E.小直徑孔用量殊途同歸的止規(guī)允許做成全形量規(guī)
最新試題
何為公差原則與公差要求?說明它們的表示方法與應(yīng)用場合。
選擇優(yōu)先數(shù)系時,應(yīng)遵守哪些原則?
有人說,光切顯微鏡既適合于測量Ra值,也適合于測量Rz值,對不對?為什么?
規(guī)定內(nèi)縮的驗收極限,既可防止誤收,也可防止誤廢。
什么是公差?為什么要規(guī)定公差?
幾何量檢測的目的與作用是什么?
下圖所示孔的幾何公差要求有何區(qū)別?
已知基孔制配合,試確定配合性質(zhì)不變的基軸制配合中孔和軸的上、下極限偏差,孔和軸的公差及配合公差、極限間隙或過盈,并畫出孔、軸公差帶圖。
舉例說明分組互換的含義及優(yōu)點。
按國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,各種不同極限值的合格條件是什么?