A.通電線圈
B.磁軛
C.交流
D.直流
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A.通電線圈
B.觸頭
C.交流
D.直流
E.磁軛
A.潤濕角θ小于90°
B.潤濕角θ大于90°
C.潤濕角θ=90°
D.與潤滑角是無關(guān)的
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
A.液體密度
B.液體粘度
C.液體表面張力
D.液體品質(zhì)
A.探傷部位的厚度
B.磁極位置,間距
C.外磁場干擾
D.磁化規(guī)范
最新試題
檢測曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
由于超聲波對進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。