A.疲勞裂紋
B.磨削裂紋
C.弧坑裂紋
D.熱影響區(qū)裂紋
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A.疏松
B.熱裂
C.氣孔
D.夾雜
A.縱波斜探頭
B.縱波直探頭
C.橫波斜探頭
D.橫波直探頭
A.壓電效應(yīng)
B.磁致效應(yīng)
C.膨脹效應(yīng)
D.電磁感應(yīng)
A.粘度
B.表面張力
C.潤濕能力
D.不由以上任何一種性能單獨(dú)決定
A.滲透液的粘性
B.毛細(xì)管作用
C.滲透液的化學(xué)作用
D.滲透液的重量
最新試題
無論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會(huì)使缺陷定位誤差增加。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
對(duì)于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。