A.射線
B.磁粉
C.渦流
D.滲透
E.超聲
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A.縱波
B.切變波
C.橫波
A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.直射法
A.聲阻抗比例公式
B.相位變化公式
C.近場公式
D.折射定律
A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
A.低頻檢驗(yàn)
B.高頻檢驗(yàn)
C.軸向和徑向檢驗(yàn)
最新試題
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。