1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說(shuō)法正確的是（）。